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标签：封装测试和终测的优缺点

• 封装测试与终测的优缺点解析
  封装测试是半导体集成电路制造过程中的关键环节，它直接关系到产品的可靠性和性能。封装测试不仅能够检测出芯片本身的质量问题，还能评估封装过程中的潜在缺陷，如焊点问题、引线断裂等。
  2026-07-03